Расчет количественных показателей надежности модулей коммутации линии проведен с целью определения показателя надежности. В качестве показателя надежности задана наработка на отказ То.
Расчет То проведен по методу λ-характеристик входящих в него изделий электронной техники (ИЭТ) с учетом их количества, типов и реальных электрических и тепловых режимов работы.
Расчет основан на следующих допущениях:
а) отказы ИЭТ являются событиями случайными и независимыми;
б) распределения времени безотказной работы ИЭТ подчиняются экспоненциальному закону;
в) интенсивности отказов ИЭТ в течение срока службы постоянны во времени, т. е. λ=const;
г) схема надежности модулей коммутации линии является простой последовательной, т. е. отказ любого элемента приводит к отказу модулей коммутации линии;
д) учитываются все элементы, отказ которых ведет к отказу модулей коммутации линии в целом: резисторы, конденсаторы, полупроводниковые приборы, микросхемы, соединители, резонаторы, фильтры и др.
Кроме указанных элементов в расчете учитывались монтажные паяные соединения (пайки), отказы которых приводят к отказу модулей коммутации линии.
При проведении расчета использовалась следующая техническая документация:
- схема электрическая принципиальная;
- перечень элементов;
справочный материал по надежности электрорадиоизделий, единый справочник, том 1 издание 9, том 3 издание 8.
Расчет выполнялся в автоматизированной системе расчета надежности АСРН.
При проведении расчета определены следующие показатели надежности:
1. Параметр потока отказов в целом на модули коммутации линии в рабочем режиме.
2. Наработка на отказ.
Расчет КПН модулей коммутации линии проведен по элементам с учетом сведений изложенных в справочниках путем заполнения таблицы соответствующих справочников АСРН.
Принятые в таблицах 1.6.1. и 1.6.2. обозначения:
λб- приведенная базовая интенсивность отказов данного типа изделий;
Кпр- коэффициент приемки, отражающий степень жесткости требований к контролю качества и правилам приемки ИЭТ;
Кэ- эксплуатационный коэффициент для перерасчета интенсивности отказов групп или типов изделий от режимов испытаний к условиям эксплуатации аппаратуры. Контроллер ПДУ, предназначенный для эксплуатации в закрытом помещении в интервале температур от 0 до 65С отнесен к группе 1.1;
Ккорп- коэффициент, учитывающий тип корпуса микросхем;
Кст- коэффициент, зависящий от сложности интегральной микросхемы и температуры окружающей среды;
Кv- коэффициент, учитывающий снижение максимальных значений напряжения питания;
Кр- коэффициент режима, характеризующий зависимость надежности изделий от величины электрической нагрузки и температуры окружающей среды;
Кt- коэффициент, зависящий от температуры для кварцевых пьезоэлектрических резонаторов и генераторов;
Кr- коэффициент, зависящий от величины сопротивления;
Кс- коэффициент, зависящий от величины емкости;
Кf- коэффициент, зависящий от частоты и мощности в импульсе для мощных транзисторов СВЧ.
Ккк- коэффициент, зависящий от количества задействованных контактов.
Описание программы АСРН
Автоматизированная система расчета надежности (АСРН) разработана на базе справочника "Надежность электрорадиоизделий" и позволяет рассчитывать суммарную интенсивность отказов модулей 1-го и 2-го уровней без резервирования, укомплектованных отечественными и импортными ЭРИ в режиме эксплуатации и хранения (только для отечественных ЭРИ) в составе подвижных и неподвижных объектов.
Система снабжена генератором отчетов, конвертором результатов расчета в формат HTML, а также базой данных импортных ЭРИ, формируемой пользователями.
В пакет поставки входит:
справочник "Надежность ЭРИ" последней редакции;
программа чтения pdf - файлов Acrobat Reader 5.0;
Читайте также
Назначение и виды ударно-контактных извещателей
Извещатели
ударно-контактные формируют тревожное извещение при
нормированном ударном воздействии на контролируемую поверхность охраняемого
объекта. Они предназначены для обнаружения раз ...
Оценка производительности каналов и мониторинг корпоративной сети
В последнее время всё чаще документооборот и передача корпоративной
информации совершается в электронном виде тем или иным способом. Для этого уже
существует множество протоколов и метод ...
Разработка компьютерных аналогов схем исследования биполярных транзисторов
компьютерный программа полупроводниковый моделирование
В
данной работе исследуются возможности применения компьютерного моделирования
для изучения характеристик традиционных полупроводник ...